我們從以下幾個方面分析環境對裝置造成的危害：

電子探針是電鏡、波譜與能譜的總稱。這種方法對分析固體顆粒狀汙染物的大小與成分是十分有效的手段。現在已經知道，無論精密電子裝置的密封程度有多好，在我國目前的環境條件下，被密封保護的印製模組仍然會受到汙染，而且，有時為了散熱的需要，不能做到完全密封，因而裝置受到汙染是不可避免的。我們以機房環境較好的通訊裝置作為例子。可以從執行的通訊裝置上收集到一些非常細微的粉塵汙染物。

那麼，這些汙染物到底有多大呢？其成分又是什麼呢？

它們到底對裝置有沒有影響以及有什麼影響？針對這種情況，我們探討了以電子探針的方法進行評估。

我們對從通訊裝置上收集到的一些粉塵作了掃描電鏡觀測，所收集到的粉塵是一些大小不等的顆粒狀或絲狀汙染物， 最大的直徑可達1mm，小的也有0。 1mm。對於微電技術，其模狀在生產線上時，對其殘留物的直徑要小於0。1mm。即使超精密工業清洗對潔淨度要求很高，但產品交付使用一段時間後，或多或少受到汙染。

還有一個關鍵問題是，這些固體汙染物到底是些什麼？它們的存在對電子裝置有沒有影響？對此，我們又作了能譜分析。在這些汙染物中存在鐵與錫等可導電的金屬粉塵及鹽汙。有些粉塵明顯來源於建築材料。在元器件與線路越來越細微化的今天，若它們大量的堆積在電路板表面，會對電子元器件的散熱造成如下影響：

（1） 使元器件表面的溫度升高。資料表明，當溫度升高10‘C，裝置的可靠性將下降25%； 當溫度繼續上升， 可能會將溫度性較差的元件或者接線燒壞。

（2） 產生靜電。當靜電積累到一定程度，防礙它中和的絕緣體再也阻擋不住時，即發生劇烈放電，即靜電放電（ESD） ， 這時的最高電壓可達幾千乃至幾萬伏，勢必對靜電敏感元件造成損害；靜電放電（ESD）及電氣過載（EOS）對電子元器件造成損害的主要機理有熱二次擊穿、金屬鍍層熔融、介質擊穿、氣弧放電、表面擊穿等等。

綜合汙染對通訊裝置的影響：

大家知道，各類通訊裝置均使用了大量易受環境條件影響的電子元器件，機械構件及各種材料。如果機房環境條件不能很好地滿足這些裝置對環境的使用要求，加之裝置長期連續運轉，就會降低裝置的可靠性，加速元器件及某些材料的老化，縮短裝置的使用壽命，甚至丟失重要的資料，產生誤碼和出現誤動作等軟性故障，進而導致相應的硬體故障。

首先，灰塵是首當其充的汙染物，不論機房採用何種建築結構，機房內的灰塵都是不可能避免的。由於通訊裝置在工作中，其各種電路自然形成相應的電磁場、靜電場分佈，產生對灰塵較強的吸附作用，日積月累，

沉積在積體電路和其它電子元器件上，明顯降低其散熱效能。此時，儘管機房的環境溫度可能在正常範圍內，但某些電路卻處在高溫狀態下工作（尤其是電源部分，大規模積體電路和大電流工作的電源部分），致使半導體器件的結溫過高，反向穿透電流和電流倍數增大，又促使結溫進一步升高，輕則引起裝置工作不穩定，重則導致熱擊穿：電阻器、電容器的引數發生不同程度的變化； 一些絕緣材料的高溫損耗（即漏電損耗）增加；加速某些印製插頭和金屬簧片的腐蝕，使其接觸電阻增加。

空氣中的水份、鹽份、油煙和各種有害氣體等，逐漸與灰塵結合，形成導電型的微電路，使裝置的工作效能發生變化；而某些地方形成不同程度的絕緣，使其接觸不良，氧化和腐蝕程度進一步增加。

第三，對於通訊系統的輸入輸出裝置，灰塵的介入不僅汙染了磁頭、磁帶和磁碟，造成機械損傷，丟失或毀壞資訊，而且使磁帶、軟盤、磁頭和磁碟持續工作在高溫之下。其磁介質的磁導率增加乃至失夫磁性，嚴重影響資料的傳輸、外理和存取。

所以這些情形的發生，我們稱其為通訊裝置的綜合汙染，其結果是各種軟性故障頻頻發生，並且令人難以分析和處理。

應用國內現已比較成熟的高指標、高效能的通訊裝置專用清潔劑進行帶電清洗，從而達到有效地消除“軟性故障“的目的。由於此類產品做到了無腐蝕，高絕緣，完全揮發，表面張力低，溶解力高，能從零件表面分隔水份及油汙，高毛細管作用使清潔劑能深入微小縫隙，達到深度清洗，其綜合效果往往是事半功倍。同時，運用公司研製的全程資料監控帶電清洗技術，對清洗過程進行全程監視和實時控制，更有效地保證了帶電清洗工作的順利進行和被清洗裝置的高度安全。

帶電清洗，可以在不停電的裝置上進行清洗，由國家電科院培訓透過的清洗人員使用專業的工具、絕緣清洗劑按規程進行清洗，在安全的基礎上有效清除裝置表面和深層的金屬粉塵、乾粉塵等汙染物，降低因汙染物而引起的裝置故障（如造成裝置誤動、短路，接觸不良，通風不良等故障），提升裝置執行效率，使他們恢復到最佳工作狀態，並且延長裝置使用壽命，達到安全的目的。

以下是帶電清洗前後對比圖：

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